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徳田・南角研究室

2018/5/30 論文誌掲載

2018年5月30日
IEEJ Transactions on Electrical and Electronic Engineeringに以下の論文が掲載されました.

"A Bayesian framework for image recognition based on hidden Markov eigen‐image models"
by Kei Sawada, Kei Hashimoto, Yoshihiko Nankaku, Keiichi Tokuda

by 小嶋康雅

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